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自主研发的粮食智能检测平台

国际标准化组织谷物与豆类分委员会第44 次会议 | 中仪智控推动"中国智造"走向世界

发布时间：

2025-06-12

2025年6月10-12日，国际标准化组织谷物与豆类分委员会（ISO/TC34/SC4）第44次会议在长沙隆重举行。北京中仪智控科技有限公司携自主研发的粮食不完善粒分析仪亮相，向世界展示了中国粮食智能检测技术的创新实力。

标准先行促进粮食行业发展

中仪智控推动"中国智造"走向世界

在此次行业盛会期间，中仪智控的展台成为全球专家学者的关注焦点，现场交流氛围热烈。公司自主研发的粮食不完善粒分析仪凭借其工业级AI质检解决方案的精准定位，引发了参观者的浓厚兴趣，众多专业人士亲临展台进行实操体验。该设备具有以下技术亮点：

设备创新应用高分辨率双面线性扫描技术，结合智能谷物姿态整形系统的主动调控，确保每一粒谷物以最佳姿态接受高速、全面无死角检测。
设备核心搭载基于深度学习的细粒度分类及识别算法，深度整合海量样品数据库+多模态大模型/质检专家标注等资源，实现覆盖质检机构、粮食加工、贸易、存储等多种应用场景下谷物图像的智能分析与精准决策。
设备可高效处理包含小麦、玉米、高粱、稻谷、大麦、糯米、大豆等多种谷物。
创新应用高速大样本量进样系统，实现国标50g到1kg的宽范围进样容量。
提供人工倒样和在线连续进样两种进样模式选择。
3 分钟即可完成 300g 样品的分析，检测效率相较传统方法实现指数级提升。
仪器的准确性等指标已通过国家粮食与物资储备局标准质量中心的适用性验证，为粮食收购、仓储、加工等全产业链关键环节，提供了坚实、智能、可靠的AI质检保障。