展会风采 | 中仪智控AI检测技术亮相全国面粉产业研讨会 引领粮食质检新变革
发布时间:
2025-04-03

近日,2025年全国面粉产业品控研发升级技术交流研讨会在郑州隆重召开。中仪智控作为粮食智能检测领域的领军企业受邀参会,现场展示了我司原创研发的粮食不完善粒分析仪及粮食智能检测工作站,凭借创新的技术理念与精准的检测性能,成为全场焦点。




中仪参会代表向来自全国各地的面粉企业代表、科研专家及政府主管部门领导全面展示了创新成果。公司重点推介的粮食不完善粒分析仪,融合了AI图像识别与多光谱分析技术,可在3分钟内精准完成小麦、玉米等谷物中不完善粒、霉变粒及杂质的智能检测,较传统人工检测效率提升超8倍。同步展出的粮食智能检测工作站,实现了从样品制备、自动检测到数据分析的全流程智能化,为面粉企业提供了"检测-分级-决策"的一站式品控解决方案。


目前,该系列解决方案已在中粮面业、益海嘉里、五得利面粉等头部企业成功落地应用,帮助客户实现品控效率提升300%、人工成本降低超60%的显著效益。我们将持续深化AI技术在粮食检测领域的创新应用,助力行业智能化升级。


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